岱美仪器技术服务2023-05-28
晶圆缺陷检测设备主要通过光学、电子学、声学等方式对晶圆进行检测。其中,光学是较为常用的检测方法,主要利用光学显微镜、激光扫描显微镜等设备对晶圆表面进行扫描,检测出其中的缺陷。我们岱美成立于1989年,是数据存储,半导体,光学,光伏和航空航天行业专业制造商和创新研发机构的先进设备分销商,我司将用心服务,尽善尽美,悉查客户需求,超越客户期待!
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